Campus Moncloa
Campus de Excelencia Internacional
Adquisición de un nuevo microscopio electrónico de altas prestaciones en el Campus Moncloa
El Departamento de Ciencia de Materiales de la Universidad Politécnica de Madrid acaba de poner en marcha un microscopio electrónico de última generación, dentro del programa de infraestructuras del Campus de Excelencia Internacional Moncloa.
20/11/2012
El Departamento de Ciencia de Materiales de la Universidad Politécnica de Madrid acaba de poner en marcha un microscopio electrónico de última generación, dentro del programa de infraestructuras del Campus de Excelencia Internacional: Campus Moncloa .
El nuevo instrumento, situado en las instalaciones del Departamento en la Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Caminos, Canales y Puertos , es un microscopio electrónico de barrido con emisión por efecto campo (FE-SEM en sus siglas en inglés). El diseño de este microscopio aúna, según los responsables del departamento, “una gran versatilidad debida a su diseño modular, que deja vía libre a futuras ampliaciones del equipamiento a la par que permite la máxima calidad de imagen en un equipo de estas características”.
La óptica electromagnética de la columna Gemini, encargada guiar y enfocar los electrones sobre el material, es una de las más avanzadas del mercado actual. De acuerdo con los datos proporcionados por el fabricante, en condiciones óptimas se puede alcanzar una resolución de 1 nm (una milmillonésima de metro, equivalente a una fila de 10 átomos) a un voltaje de aceleración de 15 kV.
Adicionalmente, es de destacar que se alcance una resolución de 2 nm cuando se trabaja con una diferencia de potencial tan baja como 1 kV. “Aparte de la calidad de la imagen” –nos aclara José Ygnacio Pastor, catedrático del Departamento y Coordinador UPM del Clúster de Materiales del CEI Moncloa– “un microscopio electrónico es un instrumento que nos permite tener acceso a una enorme cantidad de información, desde la composición química de los materiales a su orientación cristalográfica.
Por ello, es importante tomar medidas que provengan simultáneamente de varios sensores, que la muestra a estudiar se pueda manejar con facilidad una vez introducida en la cámara y que el equipo sea robusto y adaptable a multitud de situaciones y necesidades. Este equipo permitirá al CEI-Moncloa dar un paso más hacia la Excelencia y el Liderazgo Internacional”. De hecho, la cámara de vacío del nuevo microscopio es considerablemente mayor que la de anteriores versiones, lo que permite acomodar en su interior una máquina para la realización de microensayos mecánicos. “En un Departamento como el nuestro, la posibilidad de observar en directo los mecanismos de deformación y daño en materiales supone un importante avance”, relata el profesor Jesús Ruiz.
El microscopio ha sido adquirido gracias a la cofinanciación aportada por el programa CAIMON de Infraestructuras del CEI Moncloa y de otros proyectos de investigación. Esta adquisición supone un refuerzo muy bienvenido que complementa la infraestructura de investigación del campus. En palabras de los responsables, “aunque ya existen en Madrid, y en particular en la Ciudad Universitaria excelentes unidades de microscopía, este nuevo instrumento resulta complementario respecto a otras instalaciones y esperamos que pueda contribuir a establecer nuevas colaboraciones dentro y fuera del CEI Moncloa y hacer más fructíferas las que ya tenemos”. Se espera que el nuevo microscopio esté plenamente operativo en las próximas semanas.
Las principales líneas y proyectos de investigación que esta infraestructura va a beneficiar en una primera etapa son:
1. Desarrollo de materiales para su utilización en reactores de fusión avanzados.
2. Superconductores avanzados de segunda generación.
3. Materiales contra el impacto.
4. Caracterización del daño por irradiación de materiales de vasijas de combustible nuclear.
5. Durabilidad de hormigones armados por acciones sinérgicas de fuerzas y medio ambiente.
Ámbito: Asuntos Generales Fuente: Universidad Politécnica de Madrid
Fecha del evento:
20/11/2012
Nuevo microscopio electrónico